近日，廣電廣電計量在聚焦離子束（FIB）領域編寫的計量精準專業著作《聚焦離子束：失效分析》正式出版，填補了國內聚焦離子束領域實踐性專業書籍的出版空白，為該領域的域專技術發展與知識傳播提供了重要助力。

專著封面

隨著芯片技術不斷發展，著賦質量芯片的導體集成度越來越高，結構也日益復雜。提升這使得傳統的廣電失效分析方法面臨巨大挑戰。FIB技術的計量精準出現，為芯片失效分析帶來了新的出版解決方案。它能夠在納米尺度上對芯片進行精確加工和分析。域專當芯片出現故障時，著賦質量工程師可以借助FIB技術，導體像醫生給病人做手術一樣，提升對芯片內部進行極其精細的廣電 “手術”，找到故障點并進行修復，保障電子產品的正常運行。例如在航空航天領域，飛行器的零部件需要具備極高的可靠性和穩定性。FIB技術可以對這些零部件的微觀結構進行分析和優化，提升其性能和耐用性，確保飛行器在極端環境下也能安全飛行。

本書編著團隊實力雄厚，成員來自南京大學、上海交通大學、中國科技大學等國內知名高校，廣電計量作為唯一一家企業單位參與其中。這種產學研結合的編著模式充分融合了學術界的理論深度與企業界的實踐經驗，確保書中內容既具備前沿的學術價值，又擁有極高的實踐指導意義。

本書從簡要、易懂、可操作性強的編寫角度出發，概述FIB在各類失效分析中的應用原理、方法及重要性；通過大量實際工作案例，示例說明FIB在失效分析過程的具體操作步驟與注意要點；同時還深入闡述了聚焦離子束原位分析方法、應用及步驟過程，并介紹了該技術在自動化操作方向的最新發展動態與實際應用案例。書中豐富的鮮活案例，凝聚了編者們對當前FIB技術應用的實踐總結，具有很強的時效性和參考性。

作為國內領先的半導體質量評價與可靠性解決方案服務機構，廣電計量將以本書出版為契機，不斷推動國內FIB失效分析技術的廣泛應用，并與行業各方攜手共進，共同探索FIB技術的無限可能，助力我國在該領域持續創新、邁向國際前沿，構建更加完善、繁榮的行業生態。

廣電計量半導體服務優勢

●工業和信息化部“面向集成電路、芯片產業的公共服務平臺”。

●工業和信息化部“面向制造業的傳感器等關鍵元器件創新成果產業化公共服務平臺”。

●國家發展和改革委員會“導航產品板級組件質量檢測公共服務平臺”。

●廣東省工業和信息化廳“汽車芯片檢測公共服務平臺”。

●江蘇省發展和改革委員會“第三代半導體器件性能測試與材料分析工程研究中心”。

●上海市科學技術委員會“大規模集成電路分析測試平臺”。

●在集成電路及SiC領域是技術能力最全面、知名度最高的第三方檢測機構之一，已完成MCU、AI芯片、安全芯片等上百個型號的芯片驗證，并支持完成多款型號芯片的工程化和量產。

●在車規領域擁有AEC-Q及AQG324全套服務能力，獲得了近50家車廠的認可，出具近400份AEC-Q及AQG324報告，助力100多款車規元器件量產。

●在衛星互聯網領域，獲委任為空間環境地面模擬裝置用戶委員會委員單位，建設了行業領先的射頻高精度集成電路檢測能力，致力成為北斗導航芯片工程化量產測試的領航者。