SEC展臺上海賽可檢測設備有限公司(SEC)是現檢一家專業從事掃描電子顯微鏡和X-RAY檢測設備研發與生產的公司，總部位于韓國水原市。測技自1991年創立以來，閃上海術新SEC公司已經歷了30多年的耀慕發展歷程。從創業初期的尼黑自動化生產設備，到現在的掃描電鏡和X射線檢測設備，SEC公司憑借其持續的研發和技術創新，不斷突破自己，成為具備全球影響力的檢測設備提供者。其產品廣泛應用于電子配件、半導體封裝等領域，為這些領域的內部缺陷監測和分析提供了有效的解決方案。
現場觀眾前來咨詢在本次展會上，SEC著重推出了其最新研發的SNE-Alpha臺式掃描電鏡及X-RAY檢測設備X-eye SF160 F/N Series。這兩款產品具有高精度、高穩定性等特點，受到了現場觀眾的一致認可。
超高分辨率臺式掃描電鏡 更強大的性能 更人性化的操作體驗
SNE-Alpha臺式掃描電鏡SNE-Alpha是SEC于2023年推出的全新一代超高分辨率臺式掃描電鏡，在之前多款SNE系列臺式掃描電鏡的基礎上升級了產品性能和操作系統，并提供了更豐富的擴展功能。
在性能上，SNE-Alpha放大倍率可達25萬倍，比同級別的產品更高，同時通過全新的高精密電子光學系統，獲取高質量圖像，實現了超高分辨率。SNE-Alpha還配備高精度五軸全自動樣品臺，可實現迅速位移并準確找到樣品位置。其超快的真空系統也優于同級別的其他產品，進一步提高了工作效率。
在操作系統上，SNE-Alpha搭載第三代操作軟件，具備強大的自動功能，任何人均可簡單操作，在短時間內輕松獲得高質量圖像。在擴展功能上，SNE-Alpha提供顆粒物自動分析、3D粗糙度分析和超大視野拼圖軟件等豐富的功能，能夠滿足不同用戶的多樣化需求。
此外，SNE-Alpha的設計小巧緊湊，可在狹窄的空間內安裝使用，進一步提高了空間使用率，幫助用戶節約實驗室空間。
X-RAY檢測設備 實現高分辨率3D檢測
X-eye SF160 F/N SeriesSEC的RAY相關技術處于行業前沿，本次在展會現場展示的X-eye SF160 F/N Series是SEC推出的新品，主要用于半導體，電子產品，封裝等產品精密分析用非破壞性檢測設備，最大可實現550 x 650mm尺寸的產品不良檢測。
該產品搭載高性能Micro-focus Open Tube (160kV)的高性能檢測設備，可實現高分辨率、高倍率下分析不良缺陷。用戶可根據需求選擇Dual CT功能(Oblique CT,Cone-beam CT)進行3D影像檢測，分析出不良的種類、位置及大小。此外，該產品可搭載Option自動檢測S/W，通過手動裝料后的自動檢測，可實現產品全檢；還可搭載長壽命Filament，適用于量產檢測。
不斷挑戰 不斷突破
SEC意為“Superior Service & Exciting Challenge”，公司在各個方面為用戶提供高質量的服務，并為滿足用戶的需求而不斷進行改進和挑戰。隨著科技的不斷進步和市場的日益擴大，高精密電子工業檢測設備的需求也在不斷增加。SEC將繼續發揮其在研發和生產方面的優勢，為全球用戶帶來更多驚喜和突破。
關注本網官方微信 隨時閱讀專業資訊
