SEC展臺(tái)上海賽可檢測設(shè)備有限公司(SEC)是現(xiàn)檢一家專業(yè)從事掃描電子顯微鏡和X-RAY檢測設(shè)備研發(fā)與生產(chǎn)的公司，總部位于韓國水原市。測技自1991年創(chuàng)立以來，閃上海術(shù)新SEC公司已經(jīng)歷了30多年的耀慕發(fā)展歷程。從創(chuàng)業(yè)初期的尼黑自動(dòng)化生產(chǎn)設(shè)備，到現(xiàn)在的掃描電鏡和X射線檢測設(shè)備，SEC公司憑借其持續(xù)的研發(fā)和技術(shù)創(chuàng)新，不斷突破自己，成為具備全球影響力的檢測設(shè)備提供者。其產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于電子配件、半導(dǎo)體封裝等領(lǐng)域，為這些領(lǐng)域的內(nèi)部缺陷監(jiān)測和分析提供了有效的解決方案。
現(xiàn)場觀眾前來咨詢在本次展會(huì)上，SEC著重推出了其最新研發(fā)的SNE-Alpha臺(tái)式掃描電鏡及X-RAY檢測設(shè)備X-eye SF160 F/N Series。這兩款產(chǎn)品具有高精度、高穩(wěn)定性等特點(diǎn)，受到了現(xiàn)場觀眾的一致認(rèn)可。
超高分辨率臺(tái)式掃描電鏡 更強(qiáng)大的性能 更人性化的操作體驗(yàn)
SNE-Alpha臺(tái)式掃描電鏡SNE-Alpha是SEC于2023年推出的全新一代超高分辨率臺(tái)式掃描電鏡，在之前多款SNE系列臺(tái)式掃描電鏡的基礎(chǔ)上升級了產(chǎn)品性能和操作系統(tǒng)，并提供了更豐富的擴(kuò)展功能。
在性能上，SNE-Alpha放大倍率可達(dá)25萬倍，比同級別的產(chǎn)品更高，同時(shí)通過全新的高精密電子光學(xué)系統(tǒng)，獲取高質(zhì)量圖像，實(shí)現(xiàn)了超高分辨率。SNE-Alpha還配備高精度五軸全自動(dòng)樣品臺(tái)，可實(shí)現(xiàn)迅速位移并準(zhǔn)確找到樣品位置。其超快的真空系統(tǒng)也優(yōu)于同級別的其他產(chǎn)品，進(jìn)一步提高了工作效率。
在操作系統(tǒng)上，SNE-Alpha搭載第三代操作軟件，具備強(qiáng)大的自動(dòng)功能，任何人均可簡單操作，在短時(shí)間內(nèi)輕松獲得高質(zhì)量圖像。在擴(kuò)展功能上，SNE-Alpha提供顆粒物自動(dòng)分析、3D粗糙度分析和超大視野拼圖軟件等豐富的功能，能夠滿足不同用戶的多樣化需求。
此外，SNE-Alpha的設(shè)計(jì)小巧緊湊，可在狹窄的空間內(nèi)安裝使用，進(jìn)一步提高了空間使用率，幫助用戶節(jié)約實(shí)驗(yàn)室空間。
X-RAY檢測設(shè)備 實(shí)現(xiàn)高分辨率3D檢測
X-eye SF160 F/N SeriesSEC的RAY相關(guān)技術(shù)處于行業(yè)前沿，本次在展會(huì)現(xiàn)場展示的X-eye SF160 F/N Series是SEC推出的新品，主要用于半導(dǎo)體，電子產(chǎn)品，封裝等產(chǎn)品精密分析用非破壞性檢測設(shè)備，最大可實(shí)現(xiàn)550 x 650mm尺寸的產(chǎn)品不良檢測。
該產(chǎn)品搭載高性能Micro-focus Open Tube (160kV)的高性能檢測設(shè)備，可實(shí)現(xiàn)高分辨率、高倍率下分析不良缺陷。用戶可根據(jù)需求選擇Dual CT功能(Oblique CT,Cone-beam CT)進(jìn)行3D影像檢測，分析出不良的種類、位置及大小。此外，該產(chǎn)品可搭載Option自動(dòng)檢測S/W，通過手動(dòng)裝料后的自動(dòng)檢測，可實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品全檢；還可搭載長壽命Filament，適用于量產(chǎn)檢測。
不斷挑戰(zhàn) 不斷突破
SEC意為“Superior Service & Exciting Challenge”，公司在各個(gè)方面為用戶提供高質(zhì)量的服務(wù)，并為滿足用戶的需求而不斷進(jìn)行改進(jìn)和挑戰(zhàn)。隨著科技的不斷進(jìn)步和市場的日益擴(kuò)大，高精密電子工業(yè)檢測設(shè)備的需求也在不斷增加。SEC將繼續(xù)發(fā)揮其在研發(fā)和生產(chǎn)方面的優(yōu)勢，為全球用戶帶來更多驚喜和突破。
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