透射電子顯微鏡（Transmission electron microscope，學術干貨縮寫TEM），學術干貨簡稱透射電鏡，學術干貨是學術干貨把經(jīng)加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的學術干貨原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角散射。學術干貨散射角的學術干貨大小與樣品的密度、厚度相關，學術干貨因此可以形成明暗不同的學術干貨影像。通常，學術干貨透射電子顯微鏡的學術干貨分辨率為0.1～0.2nm，放大倍數(shù)為幾千～百萬倍，學術干貨用于觀察超微結(jié)構(gòu)，學術干貨是學術干貨研究材料的重要儀器之一。

本文匯總了一些有關TEM的學術干貨書籍和PPT，從基礎到深入，希望對大家有所幫助。

1、透射電子顯微學（筆記）

中科大張庶元老師的手稿，張庶元老師作為透射電鏡領域的權(quán)威和前輩，其手稿一直被大家所傳承，手稿記錄了TEM透射電子顯微鏡的概論、發(fā)展簡史、結(jié)構(gòu)及原理及儀器應用和例題講解等等，內(nèi)容很是詳實。文中重點處有所標記、易錯處老師也給出了標記，更是給出了經(jīng)典例題的詳細解答，是大家學習的經(jīng)典資料。

2、材料評價的分析電子顯微方法

本書全面地介紹了各種分析電子顯微方法。對兩種最重要的電子顯微分析技術——電子能量損失譜和X射線能譜分析方法的理論基礎、實驗技術、譜的解析，進行了系統(tǒng)的講解，指出了定量分析時的注意事項。書中詳細地講述了能量過濾方法，比較了各種類型的能量過濾器的原理、結(jié)構(gòu)和特點，并介紹了確定雜質(zhì)原子或添加元素原子位置占有率的通道增強微分析方法、納米束電子衍射和會聚束電子衍射技術、羅倫茲電子顯微方法、電子全息照相術、高角度散射暗場的掃描透射電子顯微方法等。本書除了介紹方法原理和實驗技術外，還用較大的篇幅對分析電子顯微鏡和各種分析裝置的基本結(jié)構(gòu)以及工作原理進行了詳細的講解。同時，講述了電子顯微鏡的基本操作技術和最佳使用條件的設定方法等。書中還簡要地介紹了有關的試樣制備技術和方法的要點，附錄中列出了許多有用的參數(shù)和有關的計算機軟件目錄。本書內(nèi)容系統(tǒng)實用、論述深入淺出，是一本既注重理論基礎，又側(cè)重于儀器和實驗技術的科技專著。

3、透射電鏡樣品制備技術

來自中科院物理研究所，王鳳蓮老師的PPT。主要講解了四個部分，分別為：一、平面樣品制備；二、截面樣品制備；三、粉末樣品制備；四、離子減薄樣品。給出了原理、影響因素、參數(shù)的選擇等等。

4、透射電子顯微學

黃孝瑛老師的透射電子顯微學，老師本系列還有其他書籍，無奈小編能力有限沒有下載到，在此列出書名《電子衍襯分析原理與圖譜》、《電子衍射分析方法》等，希望大家補充上來。黃老師的書深入淺出，概念清晰，結(jié)合具體事例，也是一本非常好的學習資料。

5、材料結(jié)構(gòu)電子顯微分析

作者：劉文西、黃孝瑛老師等。主要論述了透射電鏡在材料科學方面的應用，同時介紹了晶體學和表面結(jié)構(gòu)分析的原理和方法。書中特別注意對物理圖像的說明和例題的講解。易懂實用。

6、材料微觀結(jié)構(gòu)的電子顯微學分析

本書反復向讀者強調(diào)闡釋衍射物理的關于正、倒空間的概念，這是衍射物理最核心的問題。相信大家牢固的建立了這個概念之后也會受益匪淺。本書理論聯(lián)系實際，使讀者更易掌握實際操作步驟。

7、電子衍襯分析原理與圖譜

電子衍射技術是近代電子顯微術中應用最為廣泛的技術之一。本書系統(tǒng)的闡述了衍射成像理論和對圖譜的深刻分析。不但對利用電鏡技術從事研究的材料科學工作者有重要的參考價值，而且對從事電鏡工作的專職科學專員也會有很大幫助。

8、分析電子顯微學導論

9、高分辨電子顯微學在固體科學中的應用

10、TEM制樣

資料來源：中科院寧波材料所。本實驗室圍繞Gatan691 型精密離子減薄儀，配置了Gatan601 超聲波圓片切割機、Gtan623 手動研磨盤、Gatan656 凹坑研磨儀、Gatan 950 等離子清洗儀等一整套機械預減薄設備，可以制備出理想的陶瓷、半導體及金屬材料的透射電鏡樣品。針對高分子材料，專門配有超薄切片機（配冷凍附件）。主要介紹除超薄切片技術之外的透射電鏡樣品的制備技術。

11、TEM標定

給出了較簡單的TEM標定方法，希望對大家有所幫助。

12、透射電鏡原理TEM （基礎篇） 美國經(jīng)典教材Transmission_Electron_Microscope

特此說明：這是一本偏物理原理的透射電鏡教材，適合有物理基礎的同學深入學習TEM原理。

搞透射電鏡的人必讀的經(jīng)典中的經(jīng)典！
本書是美國最為流行的教科書之一。它分為4卷：基本概念，衍射理論，成像原理及能譜分析。其中第1卷主要講解電子顯微鏡的基本概念，包括衍射基礎知識、顯微鏡的組成部件、儀器構(gòu)造與功能以及樣品制備。第2卷介紹衍射圖像、倒易點陣、衍射電子像的標定，以及各種衍射分析方法。第3卷主要是關于成像原理。該卷對材料研究中典型的課題進行系統(tǒng)的介紹。比如晶體缺陷、內(nèi)應力、相分析等。該卷還著重介紹了高分辨電子顯微鏡和圖像模擬。第4卷討論各種能譜的分析方法與技術。比如X射線譜、X射線定量定性分析、電子能量損失譜、離子能量損失譜等。在電子顯微學研究中最為基本的理論是衍射理論，因而該書利用相當大的篇幅介紹衍射理論以及與其緊密相關的晶體結(jié)構(gòu)，這些知識是材料學專業(yè)的重要基礎理論之一。
本書作為教材很有創(chuàng)新性，而且把這一通用的材料表征技術的實際應用進行了必要的介紹和論述，是短時間內(nèi)掌握電子顯微鏡的最佳學習途徑，無論是電子顯微鏡初學者還是高級研究人員都將開卷有益。它也是亞馬遜網(wǎng)上書店最暢銷的教材之一。

下面分別列出四卷，可分卷下載！

TEM1

TEM2

TEM3

TEM4

13、[U._Valdre_(Eds.)]_Electron_Microscopy_in_Material

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