【化工儀器網 行業百態】現代科技的英國不斷進步，包括微納加工技術和掃描探針顯微技術，新建顯微極大的散射掃描施推動了近場光學顯微鏡的發展，出現各種反饋形式和工作方式的近場鏡設近場光學顯微鏡(反射式、透射式、光學多探針式等)。英國目前得到學術界認可的新建顯微近場光學顯微鏡是基于掃描探針顯微技術的。然而，散射掃描施基于掃描探針顯微技術得到的近場鏡設近場光學圖像的分辨率比較難于突破光的衍射極限。 　　自1984年來，光學科學家們(參見文章Phil. Trans. R. Soc. Lond. A (2004) 362, 787–805 [1])提出了通過金屬化的英國AFM探針，利用散射的新建顯微方式得到了分辨率在~10nm左右或更好的近場光學圖像，從而推動的散射掃描施近場光學領域的研究。
 　　散射式近場光學顯微鏡NeaSNOM，近場鏡設具有如下的光學特點：獨有的極高空間分辨率10nm；可適用于可見、紅外和太赫茲光譜范圍；近場振幅和相位分辨測量功能；納米尺度下，用于FTIR吸收光譜研究；極高的分辨率下，研究有機或無機樣品，整個操作僅需要常規的AFM樣品準備過程。因此，推動了等離激元研究、 石墨烯研究和納米尺度(<20nm)FTIR等研究領域。
 　　近日，英國國家物理實驗室(NPL)和曼徹斯特大學建立了新的聯合設施——散射掃描近場光學顯微鏡(s-SNOM)。
 　　該設施位于英國曼徹斯特大學，能夠在寬溫度范圍內為產業界提供納米級、非接觸、非破壞性近紅外和可見光波長的多功能光電表征。該設施能夠提供詳細納米級信息的能力，對于增強或實現依賴于各種低維和納米工程材料及其光電特性的量子技術至關重要。通過該設施，NPL和曼徹斯特大學將為英國工業界提供納米光電子學和納米光子學量子技術方面的戰略競爭優勢。預計這些技術對于未來十年的數字基礎設施、醫療保健、能源和環境以及英國的安全和恢復能力至關重要。

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