3月2日，由勝科納米((蘇州)股份有限公司 、中國半導體行業協會MEMS分會、蘇州納米科技發展有限公司主辦的第五屆納博會分析測試應用論壇在主會場B1展區會議室1順利召開。會議以國際領先的分析儀器為基礎，依托科研人員獨創性的分析方法與對儀器、產品、材料及工藝的深刻理解，為工業界解決實際生產過程中迫在眉睫或懸而未決的問題，進行技術和案例的分享與研討。
此次會議邀請了湖南越摩先進半導體有限公司總經理謝建友、上海光源中心副主任李愛國、蔡司顯微鏡業務拓展經理黃承梁、南開大學講席教授羅鋒、國家納米科學中心研究員葛廣路、賽默飛世爾科技(中國)有限公司EFA商務拓展經理唐涌耀、牛津儀器科技(上海)有限公司應用科學家馬嵐、日立科學儀器(北京)有限公司經理張希文、中國科學院半導體研究所教授級高級工程師鈕應喜等業界專家參與，為與會觀眾帶去了一場場別開生面的專題報告。
會議伊始，勝科納米(蘇州)股份有限公司董事長李曉旻首先以會議主辦方的身份發表了致歡迎詞，隨后帶來本次會議的第一場報告《從分析檢測賽道看半導體行業周期》。
報告人：勝科納米(蘇州)股份有限公司董事長李曉旻湖南越摩先進半導體有限公司總經理謝建友盡管無緣現場，依舊以線上講座的方式帶來報告《SiP先進封裝行業的技術現狀及發展趨勢》。
報告人：湖南越摩先進半導體有限公司總經理謝建友會議的第三場報告由上海光源中心副主任李愛國帶來，標題為《集成電路器件同步輻射無損表征方法》。
報告人：上海光源中心副主任李愛國上午的最后一場報告為蔡司顯微鏡業務拓展經理黃承梁帶來的《化合物半導體的先進失效分析技術》。
報告人：蔡司顯微鏡業務拓展經理黃承梁報告結束后是圓桌會議的環節，來自南開大學的教授羅峰、勝科納米(蘇州)股份有限公司的董事長李曉旻、中國科學院半導體研究所的高級工程師鈕應喜、賽默飛世爾科技(中國)有限公司的高級商務總監Sherry Zhu圍繞半導體行業中分析測試的發展前景與機遇展開了深入的討論。也讓觀眾更加期待下午的報告。
圓桌會議環節下午，羅峰教授首先進行報告，報告題為《超精密制造與集成電路工藝與裝備》。
報告人：南開大學講席教授羅峰隨后，來自國家納米科學中心研究員葛廣路帶來了《納米材料測試標準》。
報告人：納米科學中心研究員葛廣路下午的第三場報告由賽默飛世爾科技(中國)有限公司EFA商務拓展經理唐涌耀帶來，題為《提高失效分析成功率-賽默飛整體解決方案助你一臂之力》。
報告人：賽默飛世爾科技(中國)有限公司EFA商務拓展經理唐涌耀第四場報告由牛津儀器科技(上海)有限公司應用科學家馬嵐帶來，題為《牛津儀器EDS和EBSD在半導體表征中的應用進展》。
報告人：牛津儀器科技(上海)有限公司應用科學家馬嵐簡單的茶歇之后，來自日立科學儀器(北京)有限公司的經理張希文帶來了《日立電鏡產品助力最先進半導體產業》。
報告人：日立科學儀器(北京)有限公司經理張希文鈕應喜高級工程師則作為壓軸，帶來了《碳化硅缺陷表征以及其對器件性能的影響》。
報告人：中國科學院半導體研究所教授級高級工程師鈕應喜負責收尾的是勝科納米(新加坡)副總裁華佑南，他以線上報告的形式帶來了《X-射線能譜(EDS)、X-射線光電子能譜(XPS)和俄歇電子能譜(AES)分析技術研究和在半導體芯片設計、晶圓制造和先進封裝中的應用》，為活動畫上了圓滿的句號。
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